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X射线计算机体层摄影设备产品描述:通常由扫描架、X射线发生装置、探测器、图像处理系统和患者支撑装置组成。 X射线计算机体层摄影设备预期用途:用于对从多方向穿过患者的X射线信号进行计算机处理,为诊断提供重建影像,或为放射治疗计划提供图像数据。 X射线计算机体层摄影设备品名举例:X射线计算机体层摄影设备、头部X射线计算机体层摄影设备、移动式X射线计算机体层摄影设备、车载X...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月07日
检测项:石棉 检测样品:化妆品 标准:进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法 SN/T2649.1-2010
检测项:铅,汞,铬,镉,溴 检测样品:电子电气产品 标准:电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法 GB/Z 21277-2007
检测项:邻苯二胺、 间苯二胺、 对苯二胺 检测样品:化妆品 标准:进出口化妆品中石棉的测定 第1部分:X射线衍射-扫描电子显微镜法 SN/T 2649.1-2010
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:柴油及其它成品油 标准:ASTM D4294-10石油和石油产品硫含量的能量色散X射线荧光光谱法测定方法
检测项:硫含量 检测样品:燃料油 标准:ASTM D4294-10石油和石油产品硫含量的能量色散X射线荧光光谱法测定方法
机构所在地:浙江省舟山市 更多相关信息>>
检测项:多晶结构 检测样品:晶体材料 标准:转靶多晶体X射线衍射方法通则JY/T009-1996
检测项:全部项目 检测样品:烟花爆竹 标准:烟花爆竹 安全与质量 GB10631-2004
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:硅、锰、磷、硫、钛 检测样品:生铁 标准:钢铁 多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法(常规法) GB/T 223.79-2007
检测项:SiO2、CaO、MgO、Al2O3、TFe 检测样品:高炉渣 标准:炉渣 X射线荧光光谱分析方法 YB/T 4177-2008
检测项:SiO2、CaO、Al2O3、MnO、P 检测样品:铁矿石 标准:铁矿石 钙、硅、镁、钛、磷、锰、铝和钡含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 GB/T 6730.62-2005
机构所在地:辽宁省鞍山市 更多相关信息>>
检测项:镀层结合强度 检测样品:装具 标准:金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 GB/T16921-2005
检测项:耐摩擦色牢度 检测样品:纺织品 标准:纺织品 色牢度试验 第X12部分:耐摩擦色牢度 ISO 105-X12-2001
检测项:硫、硅、锰、磷 检测样品:钢铁 标准:钢铁 多元素含量的测定 X-射线荧光光谱法 (常规法) GB/T 223.79-2007
检测项:砷 检测样品:钢铁 标准:生铁、炉渣元素及组分含量的测定 X-射线荧光光谱法 Q/WG B 02T0 WWH 007-2013
检测项:硅、锰、硫、磷、铝 检测样品:铁矿石 锰矿 标准:铁矿石—用X-射线荧光光谱法测定各种元素— 第1部分:综合规程 ISO 9516-1:2003
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:镀层厚度 检测样品:硫化橡胶或热塑性橡胶 标准:《电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则》GB/T17359–1998
检测项:六价铬 检测样品:电子电工产品及原料 标准:《电子电气产品中限用物质铅、汞、铬、镉和溴的快速筛选 X射线荧光光谱法》 GB/Z 21277-2007
检测项:铅、汞、镉、铬、溴 检测样品:电子电工产品及原料 标准:《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法》 SN/T 2003.1-2005(2009)
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
检测项:酸度 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
检测项:硅+铝 检测样品:石油产品 标准:残渣燃料油中铝、硅、钒、镍、钠、钙、锌、磷的测定 灰化碱熔电感耦合等离子发射光谱法 IP501-2005
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:烟点 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
检测项:元素含量 检测样品:石油产品 标准:润滑油及添加剂中添加元素含量测定法(电感耦合等离子体发射光谱法)SH/T 0749-2004
检测项:X射线无损检测 检测样品:半导体分立器件 标准:GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:X射线无损检测 检测样品:微电子器件 标准:GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序