温度变化稳定性检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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脆化温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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北京神州腾耀通信技术有限公司

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品（可靠性）标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T 2423.22－2002 IEC 60068-2-14-2009

检测项：电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度检测样品：电子和电器设备(电磁兼容EMC) 标准：电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004 EN 61000-4-11:200

检测项：电压变化、电压暂降和短时中断抗扰度检测样品：网络设备(电磁兼容EMC) 标准：无用发射的杂散骚扰部分 ITU-R SM.329-10

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联想（上海）电子科技有限公司检测实验室

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品(环境试验) 标准：电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2002

检测项：高温检测样品：电工电子产品(环境试验) 标准：电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验B: 高温 GB/T 2423.2-2008

检测项：温度/ 湿度组合循环检测样品：电工电子产品(环境试验) 标准：电工电子产品环境试验第2 部分：试验方法试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验 GB/T 2423.34-2005

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上海谱尼测试技术有限公司

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2002

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法 GB/T 2423.4-2008

检测项：苯胺类检测样品：水和废水标准：水质水温的测定温度计或颠倒温度计测定法GB 13195-1991

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丹佛斯（天津）有限公司全球服务（中国）技术中心

检测项：温度变化试验检测样品：压缩机及控制阀用零部件标准：环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T 2423.22-2012 Nb

检测项：温度变化试验检测样品：压缩机及控制阀用零部件标准：环境试验第2-30部分：试验方法试验Db：交变湿热(12h+12h循环) IEC 60068-2-30:2005

检测项：外形尺寸检测样品：压缩机及控制阀用零部件标准：环境试验-第2-14部分：试验方法-试验N：温度变化 IEC 60068-2-14:2009 Nb

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广东省通讯终端产品质量监督检验中心

检测项：*温度变化检测样品：电工电子产品（环境试验）标准：《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化》GB/T 2423.22-2012

检测项：**稳定性和机械危险检测样品：电信终端设备(安全) 标准：《电信终端设备的安全要求和试验方法》YD/T 965-1998

检测项：*设备稳定性检测样品：电信终端设备(安全) 标准：《电信终端设备的安全要求和试验方法》YD/T 965-1998

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广州市番禺奥迪威电子有限公司实验室

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.22-2012 《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N：温度变化》

检测项：温湿度组合循环检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.34-2012 《电工电子产品环境试验第2 部分：试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验》

检测项：高温检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.2-2008 《电工电子产品环境试验第2部分试验B: 高温》

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苏州广博力学环境实验室有限公司

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品、汽车产品与军用设备标准：JIS C 0025-1988 基本环境试验程序第2部分：温度变化法 JESD22-A104C-2005 试验方法A104C 温度循环 GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序方法 1010.1 温度循环 GJB128A-1997 半导体分立

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品、汽车产品与军用设备标准：GB/T2423.22-2002 IDT IEC 60068-2-14：1984 电工电子产品环境试验第2部分:

检测项：温度冲击检测样品：电工电子产品、汽车产品与军用设备标准：GJB150.5-1986 军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB150.5A-2009 军用装备实验室环境试验方法第5部分:温度冲击

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：温度循环检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环（空气-空气）电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验；

检测项：高温寿命（非工作）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

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中国电子科技集团公司第三十八研究所计量测试中心

检测项：温度变化试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：军用装备实验室环境试验方法温度冲击试验GJB150.5A-2009

检测项：温度变化试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：军用装备实验室环境试验方法温度冲击试验GJB150.5A-2009

检测项：霉菌试验检测样品：军用设备、电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GB/T2423.22-2002

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熊猫电子集团有限公司检测认定中心

检测项：温度冲击试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化》 GB/T 2423.22-2012

检测项：温度冲击试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《军用装备实验室环境试验方法第5部分: 温度冲击试验》GJB 150.5A-2009

检测项：温度-高度试验检测样品：电工电子产品及军用的电气设备产品标准：《军用设备环境试验方法温度-高度试验》 GJB 150.6-1986

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