温度特性与寿命检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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脆化温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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广州广电计量检测股份有限公司

检测项：稳态工作寿命检测样品：半导体分立器件标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：寿命检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：高温检测样品：电连接器和插座标准：电连接器高温寿命 EIA-364-17B-1999

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

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佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心实验室

检测项：温度冲击试验检测样品：电子产品标准：循环温度湿度偏压寿命试验JESD22-A100C-2007

检测项：高温寿命试验检测样品：电子产品标准：低温存储试验 JESD22-A119-2004(R2009)

检测项：恒温恒湿试验检测样品：电子产品标准：高温、偏置电压、寿命试验 JESD22-A108D-2010

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中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：高温检测样品：电连接器标准：电连接器有或无电气负载温度寿命试验程序 EIA-364-17C-2011

检测项：高温检测样品：电连接器标准：电连接器有或无电气负载温度寿命试验程序 EIA-364-17C-2011

检测项：高温检测样品：电连接器标准：电子设备连接器-试验和测量-第11-9部分: 气候试验.试验11i:干热 IEC60512-11-9-2002 电连接器有或无电气负载温度寿命试验程序 EIA-364-17C-2011

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：高温寿命试验检测样品：固定电感器标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序GB/T8554-1998

检测项：高温寿命试验检测样品：固定电容器标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

检测项：高温寿命试验检测样品：固定电容器标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

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大陆汽车电子（芜湖）有限公司质保部检测中心

检测项：温度冲击/寿命循环试验检测样品：执行器(电子节气门体) 标准：微型电气废气循环控制阀 EAS 838-2006 3.4

检测项：短周期的耐久温度循环寿命试验检测样品：执行器(电子节气门体) 标准：微型电气废气循环控制阀 EAS 838-2006 3.8

检测项：温度储存检测样品：背照明表牌与符号片载体标准：背照明表牌与符号片载体质量保证 CN728010-2008 9

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西安近代化学研究所分析测试中心

检测项：储存寿命检测样品：涂料硝化棉标准：炸药环境适应性试验高低温温度循环试验法 Q/AY 250-1996(所标)

检测项：玻璃化温度检测样品：涂料硝化棉标准：炸药环境适应性试验高低温温度循环试验法 Q/AY 250-1996(所标)

检测项：高低温温度循环试验检测样品：涂料硝化棉标准：炸药环境适应性试验高低温温度循环试验法 Q/AY 250-1996(所标)

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烟台市产品质量监督检验所

检测项：部分参数检测样品：汽车制动气室橡胶隔膜标准：汽车制动气室橡胶隔膜 HG 2950-1999

检测项：温度特性试验检测样品：车轮标准：车轮轮辐在轮毂上安装尺寸的检验方法QC/T240-1997

检测项：部分参数检测样品：传动带标准：汽车多楔带GB13552-2008

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中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：冲击寿命检测样品：通信设备过电流保护用PTCR 标准：通信设备过电流保护用正温度系数（PTC）热敏电阻器技术要求 YD/T 741-2002

检测项：限流特性检测样品：通信设备过电流保护用PTCR 标准：通信设备过电流保护用正温度系数（PTC）热敏电阻器技术要求 YD/T 741-2002

检测项：与电话网接口特性检测样品：调制解调器(MODEM) 标准：非话用户终端设备与公用电话网接口技术要求和测试方法 YD/T 514-1998 话音频带调制解调器检验测试方法 YD/T 704-93

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：高温寿命（非工作）检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：高温贮存检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验；

检测项：温度循环检测样品：电子元器件试验标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1温度循环半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051温度循环（空气-空气）电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107温度冲击试验；

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：稳态湿热检测样品：电子元器件标准：温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100C-2007

检测项：温度冲击（气体介质）检测样品：电子元器件标准：稳态湿热偏置寿命试验EIA/JESD22-A101c-2009

检测项：恒定加速度检测样品：电子元器件标准：温度、通电和工作寿命 JESD22-A108D-2010

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