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收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数,收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器:薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月24日
检测项:栅-源短路时的漏极电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:栅-源阈值电压 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:栅-源短路时的漏极电流 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 》
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:栅源阈值电压 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:漏源通态电压 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:漏源击穿电压 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:栅源极截止(漏泄)电流IGSS 检测样品:场效应晶体管 标准:《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管GB/T 4586-1994 《半导体分立器件试验方法GJB 128A-1997
检测项:电压调整率(基准部分)SV 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
检测项:电流调整率(基准部分)SI 检测样品:脉宽调制器 标准:《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地:贵州省贵阳市