源效应（电网调整率）检测实验

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪查看详情>>

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration)

定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。

收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪

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收缩率

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：电压调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：电流调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：电压调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：漏源极截止电流IDSS 检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电流调整率检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

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天纺标（天津）检测科技有限公司

检测项：干热缩率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应受干热的织物尺寸变化的测定 GB/T 17031.2-1997

检测项：静态缩率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应受干热的织物尺寸变化的测定 ISO 9866.2-1991

检测项：干热缩率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应受干热的织物尺寸变化的测定 GB/T 17031.2-1997

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总后军需材料供应站被装材料监督检验中心

检测项：干热尺寸变化率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应第1部分:织物的干热处理程序 GB/T 17031.1-1997

检测项：干热尺寸变化率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应第1部分:织物的干热处理程序GB/T 17031.1-1997

检测项：汽蒸尺寸变化率检测样品：纺织品标准：纺织品织物在低压下的干热效应第2部分:受干热的织物尺寸变化的测定 GB/T 17031.2-1997

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江苏华东纺织产品检测有限公司

检测项：尺寸变化率检测样品：纺织产品标准：纺织品织物在低压下的干热效应 GB/T17031.1～17031.2-1997

检测项：尺寸变化率检测样品：纺织产品标准：纺织品测定尺寸变化的试验中织物试样和服装的准备、标记及测量 GB/T8628-2001

检测项：尺寸变化率检测样品：纺织产品标准：纺织品试验用家庭洗涤和干燥程序 GB/T8629-2001

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中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：栅-源短路时的漏极电流检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：栅-源阈值电压检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：栅-源短路时的漏极电流检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：栅源阈值电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：漏源通态电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

检测项：漏源击穿电压检测样品：场效应管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管》GB/T4586-1994

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：栅源极截止（漏泄）电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：《半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管GB/T 4586-1994 《半导体分立器件试验方法GJB 128A-1997

检测项：电压调整率（基准部分）SV 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：电流调整率（基准部分）SI 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：静态漏—源通态电阻检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：栅源阈值电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电压调整率检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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