源效应（电网调整率）检测实验

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪查看详情>>

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration)

定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。

收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪

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收缩率

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：静态漏—源通态电阻检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：栅源阈值电压检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电压调整率检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：栅源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994半导体器件第8部分：场效应晶体管

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：栅-源击穿电压检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：漏-源通态电阻检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

检测项：栅-源击穿电压检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

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北京东方计量测试研究所

检测项：源效应检测样品：多功能校准源标准：GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

检测项：源效应检测样品：多功能校准源标准：GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

检测项：源效应检测样品：多功能校准源标准：GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件

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浙江省检验检疫科学技术研究院嘉兴分院

检测项：部分参数检测样品：针织塑身内衣标准：针织塑身内衣调整型FZ/T73019.2-2004

检测项：调整检查检测样品：紧固件标准：车辆千斤顶AS/NZS 2693：2007

检测项：调整检查检测样品：紧固件标准：油压千斤顶JB/T2104-2002（2009）

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福建省正毅工业计量站有限公司

检测项：电源调整率检测样品：直流稳压电源标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

检测项：负载调整率检测样品：直流稳压电源标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

检测项：电源调整率检测样品：高压漆膜连续性试验仪标准：漆包绕组线试验仪器设备检定方法　高压漆膜连续性试验仪 JB/T 4279.13-1994

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西安微电机研究所微电机实验室

检测项：温度变化转速调整率检测样品：交流伺服系统* 标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439－2009

检测项：电压变化转速调整率检测样品：交流伺服系统* 标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439－2009

检测项：负载变化转速调整率检测样品：交流伺服系统* 标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439－2009

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东北电力科学研究院有限公司

检测项：电压调整率试验检测样品：空冷凝汽器标准：《空冷凝汽器验收试验和运行监督导则》VGB—R131Me

检测项：电压调整率试验检测样品：空冷凝汽器标准：《空冷凝汽器验收试验和运行监督导则》VGB—R131Me

检测项：数字调节器动态特性试验检测样品：水轮机调速器标准：《水轮机电液调节系统及装置调整试验导则》 DL/T 496-2001

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：正向栅源漏电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：转速调整率检测样品：交流伺服系统标准：交流伺服系统通用技术条件GB/T16439-2009

检测项：转速变化率检测样品：交流伺服系统标准：交流伺服系统通用技术条件 GB/T16439-1996

检测项：正反转速差率检测样品：交流伺服系统标准：交流伺服系统通用技术条件GB/T16439-2009

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