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羟值(Hydroxylvalue) 1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。 羟值 测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式 查看详情>>
羟值(Hydroxylvalue)
1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。
羟值测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式
收起百科↑ 最近更新：2017年03月21日
检测项：幅值非线性 检测样品：扬声器及系统(无源) 标准：声系统设备 第5部分：扬声器主要性能测试方法 GB/T 12060.5-2011
检测项：幅值误差 检测样品：基桩动测仪 标准：基桩动测仪 JG/T 3055-1999
检测项：幅值非线性度 检测样品：基桩动测仪 标准：基桩动测仪 JG/T 3055-1999
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：正输出电压摆幅VO+ 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项：负输出电压摆幅VO- 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项：输出电压摆幅Vo 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项：振动（正弦） 检测样品：电工电子产品环境试验 Fc：振动（正弦） 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦） GB/T 2423.10-2008
检测项：视频输出电压 检测样品：VCD视盘机 标准：VCD视盘机通用规范 SJ/T 10730-1997
检测项：音频输出电压 检测样品：家庭影院用组合扬声器系统 标准：家庭影院用组合扬声器系统 通用规范 SJ/T 11218-2000
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输入电压跃变时的输出响应VVOR 检测样品：PWM脉宽调制电路 标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范
检测项：最大输出电流IDM 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输入电压跃变时的输出响应VVOR 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输出高电平阈值电压VOHT 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输入电压跃变时的输出响应 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项：负载跃变时的输出响应 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项：输入电压变化瞬态响应时间和输入电压变化瞬态过冲电压 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T14029-1992
检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：温度循环、温度冲击 检测样品：电子和电气产品 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N： 温度变化 GB/T 2423.22-2002 军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB 150.5A-2009
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：栅-源截止电压 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
