中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

检测项：反向漏电流 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

检测项：集电极-发射极反向击穿电压 检测样品：晶振 标准：GJB1648A-2011 晶体振荡器通用规范 GJB2138-94 石英晶体元件总规范 GJB/Z45.1-93 军用压电器件系列型谱 石英晶体元件

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：反向漏电流 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

检测项：集电极-发射极反向击穿电压 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器集电极—发射极反向击穿电压的测试 方法SJ2215.7-1982

检测项：反向电流 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.4-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：截止态漏级漏电流ID（off） 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

莱茵技术监护（深圳）有限公司

检测项：患者漏电流和患者辅助漏测试连接示例 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备 第一部分：安全通用要求和基本性能 IEC 60601-1:2005+A1:2012 EN 60601-1:2006

检测项：常态下的泄漏电流及耐压 检测样品：冷冻器具,冰淇淋器具和制冰机 (安全试验) 标准：家用和类似用途电器安全 第1部分:通用要求 IEC 60335-1: 2010 EN 60335-1:2012 家用和类似用途电器安全 第2-24部分:冷冻器具,冰淇淋器具和制冰机的特殊要求 IEC 60335-2-24+A1:2012 EN 60335-

检测项：常态下的泄漏电流及耐压 检测样品：冷冻器具,冰淇淋器具和制冰机 (安全试验) 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分;通用要求 GB 4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全 制冷器具、冰淇淋机和制冰机的特殊要求 GB 4706.13-2008

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：反向漏电流（IR） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：反向栅源漏电流（IGSSR） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

检测项：集电极-基极截止电流（ICBO） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：反向电流 检测样品：晶体谐振器 标准：GJB 2138-1994 石英晶体元件总规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

检测项：**部分项目 检测样品：绝缘手套 标准：带电作业用绝缘手套 GB/T 17622-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：反向电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：断态电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：擎住电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：漏电电流 检测样品：漏电保护器测试仪 标准：漏电保护器安装和运行GB13955-2005

检测项：漏电电流 检测样品：漏电保护器测试仪 标准：漏电保护器安装和运行 GB13955-2005

检测项：泄漏电流 检测样品：环境试验 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>