北京振兴计量测试研究所

检测项：截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：导通态漏电流IDS(on) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：漏电流 检测样品：电磁继电器 标准：有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器总规范 GJB192A-1998

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：漏电流Id 检测样品：电感器 标准：GB/T16512-1996 电子设备用固定电感器总规范

检测项：截止态漏级漏电流ID（off） 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：导通态漏电流IDS（on ） 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：截止态漏极漏电流 ID（Off） 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：导通态漏电流IDS（on） 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：断态电流(ID) 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：导通态漏电流 IDS（on） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

检测项：截止态漏极漏电流ID（off） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

检测项：导通态漏电流 IDS（on） 检测样品：电压基准 标准：SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：静态电流ID及静态电流变化△ID 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》

检测项：反向漏电流IR 检测样品：三极管 标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品：工业、科学和医疗射频设备 标准：(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容 限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：漏电电流 检测样品：漏电保护器测试仪 标准：漏电保护器安装和运行GB13955-2005

检测项：漏电电流 检测样品：漏电保护器测试仪 标准：漏电保护器安装和运行 GB13955-2005

检测项：泄漏电流 检测样品：环境试验 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出电压VO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：直流电流功能准确度 检测样品：数字多用表校准仪 标准：数字多用表校准仪通用技术条件BG/T15637-1995

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：漏极电流ID 检测样品：场效应晶体管 标准：1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分：场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分：微波器件

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：门极触发电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

检测项：漏电流 检测样品：石英晶体谐振器 标准：石英晶体元件总规范 GJB 2138-1994

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

南京市建筑安装工程质量检测中心

检测项：泄漏电流 检测样品： 标准：

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>