中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：基准电压 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：基准电压 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度 检测样品：电子电气 设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008 IEC 61000-4-11:2004

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：集电极-发射极饱和电压VCEsat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：基极-发射极饱和电压VBesat 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：基准电压VREF 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：输出电压和电流 检测样品：灯头温升 标准：GB/T 24392-2009 IEC 60360:1998 灯头温升的测量方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：基准电压 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理　 GB/T14029-1992

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：V/F电源电压灵敏度 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：基准电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：基准电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：输出电压调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：基准电压 （VREF） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：电源电压抑制比(PSRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：基准电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：基准电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

安徽省电子产品监督检验所

检测项：基准输出电压 检测样品：激光视盘机 标准：VCD视盘机通用规范SJ/T10730-1997 超级VCD系统技术规范SJ/T11196-1998 进出口音视频及类似电子设备检验规程 第4部分： DVD视盘机的特殊要求 SN/T1603.4-2005

检测项：基准输出电压 检测样品：激光视盘机 标准：VCD视盘机通用规范SJ/T10730-1997超级VCD系统技术规范SJ/T11196-1998 进出口音视频及类似电子设备检验规程 第4部分：DVD视盘机的特殊要求SN/T1603.4-2005

检测项：电压暂降和短时中断抗扰度 检测样品：电工电子产品工科医设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 GB/T17626.11-2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 GB/T17626.6-2008 医用电气设备 第1-2部分：安全通用要求-并列标准：电磁兼容-

机构所在地：安徽省合肥市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：电压基准试验 检测样品：压敏电阻 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合 GB/T2423.102-2008 电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 电子设备用压敏电阻器安全要求 SJ11267-2002

检测项：地电压引起的改变量 检测样品：高电压分压器测量系统 标准：高电压测试设备通用技术条件第1部分：高电压分压器测量系统 DL/T 846.1-2004

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：厂站采集终端 标准：《电磁兼容电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.11—2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳电气科学研究所（深圳电气科学研究所中心实验室/深圳电气产品质量检测中心）

检测项：部分项目 检测样品：低压断路器 标准：GB 14048.2-2008 低压开关设备和控制设备 第2部分：断路器 IEC 60947-2:2009

检测项：部分项目 检测样品：低压断路器 标准：低压开关设备和控制设备 第2部分：断路器 GB 14048.2-2008 IEC 60947-2:2009 塑料外壳式断路器产品质量监督抽查实施规范 CCGF 212.3-2008

检测项：全部项目 检测样品：电压互感器 标准：JB/T 5357-2002 电压互感器试验导则

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>