官方微信
您当前的位置:首页 > 电平下降
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电平 检测样品:有线数字电视广播QAM调制器 标准:有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法 GY/T 198-2003
检测项:最大输出电平 检测样品:交流电测量设备(通用要求) 标准:交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 GB/T 17215.211-2006 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分:测量设备 IEC 62052-11:2003 交流电测量设备-第1部分:通用要求,试
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:**接收器最小输入电平灵敏度 检测样品:无线局域网(WLAN)设备 标准:《移动用户终端无线局域网技术指标和测试方法》YDC 079-2009
检测项:**接收机最大输入电平 检测样品:无线局域网(WLAN)设备 标准:《移动用户终端无线局域网技术指标和测试方法》YDC 079-2009
检测项:**最大输入电平 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范1.2/2.0/2.0+EDR/2.1/2.1+EDR/3.0/3.0+HS/4.0 的测试结构(TSS)和测试目的(TP) 蓝牙低功耗 RF PHY测试规范:测试结构(TSS)和测试目的(TP)
机构所在地:广东省河源市 更多相关信息>>
检测项:校准信号电平 检测样品:数字示波器 标准:GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
检测项:校准信号电平 检测样品:防静电服 标准:Q/W 1302-2010 防静电系统测试要求
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制(ALC)范围 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
检测项:自动电平控制(ALC) 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241-2002
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:射频输入信号电平 检测样品:CATV传输设备 标准:GY/T 143-2000 有线电视系统调幅激光发送机和接收机入网技术条件和测量方法
检测项:发射功率电平 检测样品:通信设备防雷系统 标准:YD/T 1429-2006 通信局(站)在用防雷系统技术要求和检测方法
检测项:接收机的最小输入电平灵敏度 检测样品:通信设备防雷系统 标准:YD/T 1429-2006 通信局(站)在用防雷系统技术要求和检测方法
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制(ALC)范围 检测样品:直放站 标准:900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信直放机技术要求和测试方法 YD/T 1337-2005
检测项:最大允许输入电平 检测样品:直放站 标准:800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网 模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011
检测项:自动电平控制(ALC) 检测样品:直放站 标准:800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网 模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011
检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>