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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法 212 Y1
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电子元器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:稳态 湿热 检测样品:电子元器件 标准:温度湿度偏置循环寿命测试JESD22-A100C-2007
检测项:芯片附着 强度 检测样品:电子元器件 标准:引线键合剪切测试方法EIA/JESD22-B116A-2009
检测项:静电放电 敏感度分类 检测样品:电子元器件 标准:静电放电测试协会标准 ESD STM5.1-2007
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:失调误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:零点误差 检测样品:光电耦合器 标准:SJ/T 10818-1996 半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:稳态湿热 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005方法1004.1
检测项:稳态湿热 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360A-1996方法106
检测项:稳态湿热 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法106
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:pH值 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:DIN 53314:1996 皮革中六价铬测试方法
检测项:甲醛 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:ISO 17226-2:2008 皮革测试-皮革中甲醛的测定-比色法
检测项:总镉 检测样品:电子电器产品(聚合物、金属、电子元器件)中有害物质 标准:EN 1122:2001 镉测试前处理-湿法消解
机构所在地:广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项:输出电压(VO) 检测样品:DC/DC变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-97
检测项:粒子碰撞噪声检测试验 检测样品:电磁继电器 标准:电磁继电器总规范 GJB65B-99
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:栅源漏电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体器件测试方法 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1
检测项:N沟道MOSFET的阀值电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体器件测试方法 MIL-STD-750F:2012 方法3404
检测项:P沟道MOSFET的阀值电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体器件测试方法 MIL-STD-750F:2012 方法3404
检测项:外部目检 检测样品:塑封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
检测项:X射线检查 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
检测项:外部目检 检测样品:密封半导体集成电路 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:驻波比 检测样品:失配器/短路器/开路器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
检测项:衰减量 检测样品:耦合器/功分器 标准:微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
检测项:输出电流 检测样品:电子元器件 标准:电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法301
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:线性误差EL 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:馈通误差EF 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:共摸抑制比KCMR 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>