电流传输比检测实验

微生物比浊仪器

简介

微生物比浊仪器相关标准： 1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统 3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：...查看详情>>

微生物比浊仪器

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微生物比浊仪器相关标准：
1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第2部分：抗菌剂敏感性试验设备的性能评价
2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统
3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价第1部分：抗菌剂对感染性疾病相关的快速生长需氧菌的体外活性检测的参考方法

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：场效应管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：电流传输比检测样品：晶体三极管标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体器件分立器件和集成电路第7部分双极型晶体管

检测项：电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003半导体器件分立器件第5部分光电子器件

检测项：电源电压抑制比检测样品：CMOS电路标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序第4.5节方法5005.2

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：共发射正向电流传输比检测样品：双极型晶体管标准：半导体器件分立器第7部分双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：电源电压抑制比检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入失调电流检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第9部分：场效应晶体管

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：场效应管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：电流传输比hF(ctr) 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：电源电压抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：共发射极正向电流传输比h21E 检测样品：三极管标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：电流传输比CTR 检测样品：光电耦合器标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件分立器件第5部分：光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：50Hz～100 kHz壳体电流传导敏感度CS109 检测样品：军用设备和分系统标准：(1)GJB151A-1997《军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求》 (2)GJB152A-1997《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》 (3)GJB3590-1999《航天系统电磁兼容性要求

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：正向电流传输比HFE 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：电流传输比（CTR）检测样品：电容器标准：电子设备用固定电容器第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：电源电压抑制比(PSRR) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：纹波抑制比 (SRIP) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：电流传输比检测样品：光电标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

检测项：共发射极正向电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

检测项：电流传输比检测样品：光电耦合器标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分光电子器件测试方法第5.1条第5.6.2条

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山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

检测项：共发射极正向电流传输比的静态值检测样品：低频放大管壳额定的双极型晶体管标准：低频放大管壳额定的双极型晶体管空白详细规范GB/T7577-1996

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