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收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。 收缩率 测试仪器：薄膜热收缩率试验仪 查看详情>>
收缩率(Shrinkageration)
定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。
收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
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检测项：电压调整率Reg/ln 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：电流调整率SI 检测样品：DC/DC转换器 标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率 检测样品： 标准：
检测项：电流调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
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机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
检测项：电流调整率 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法301
检测项：电压调整率 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：电磁辐射抗扰性(大电流注入法) 检测样品：汽车电气产品 标准：关于符合电磁兼容性车辆认可的统一规定 ECE Reg10.02:2008
检测项：电磁辐射抗扰性(大电流注入法) 检测样品：汽车电气产品 标准：道路车辆—零部件的窄带电磁干扰测量方法—第4部分:大电流注入(BCI)法 ISO 11452-4:2005
机构所在地：辽宁省大连市 更多相关信息>>
检测项：电功率老化 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法1015A
检测项：电容量、损耗及漏电流测试 检测样品：电容器 标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009中方法108
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电流调整率 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：电压调整率和电压稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项：热调整率 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：电流调整率SI 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995《半导体分立器件试验第3部分：信号（包括开关）和调整二极管》
检测项：电流调整率SI 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选 标准：GJB548B--2005微电子器件试验方法和程序
检测项：输入电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
