电流调整率Reg/ld 检测实验

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration) 定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪查看详情>>

收缩率

简介

收缩率(Shrinkageration)

定义为收缩量与收缩前尺寸之比的百分数，收缩量则为收缩前后尺寸之差。

收缩率测试仪器：薄膜热收缩率试验仪

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收缩率

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：电流调整率（SI）检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：电压调整率（SV）检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

检测项：静态电源电流(IQ) 检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996

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湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：反向电流IR 检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功能检测样品：采样/保持放大器标准：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996；

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：电流调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：电流调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：电流调整率检测样品：电阻标准：电子设备用固定电阻器总规范 GB/T5729-2003 第4.5条

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电压调整率检测样品：半导体集成电路电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T 4377-1996

检测项：输出电流调整率检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：电流调整率检测样品：电磁继电器标准：有可靠性指标的电磁继电器总规范 GJB 65B-1999

检测项：电压调整率检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：电源电流检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：电流调整率SI 检测样品：DC-DC电源变换器标准：《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988

检测项：电流调整率（基准部分）SI 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：电压调整率（基准部分）SV 检测样品：脉宽调制器标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

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上海精密计量测试研究所

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：电流调整率SI 检测样品：PWM脉宽调制电路标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：断态电流检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：维持电流检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：电流调整率检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：电压调整率检测样品：晶体三极管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：二极管标准：《半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：电流调整率SI 检测样品：集成电路筛选标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：电流调整率SI 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

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