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超声影像引导系统产品描述:通常由超声系统主机、凸阵探头、床位指示器套件、模体、工作站和服务器、软件等组成。 超声影像引导系统预期用途:可将超声与CT图像配准融合,用于前列腺等图像引导放射治疗的支持与补充。 超声影像引导系统品名举例:超声影像引导系统 超声影像引导系统管理类别:Ⅲ 超声影像引导系统相关标准: 1、GB 10152-20...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年03月02日
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出电压稳定性 检测样品:DC/DC电源装置 标准:军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-1997
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:视频输出电平 检测样品:VCD视盘机 标准:VCD视盘机通用规范 SJ/T 10730-1997
检测项:视频通道输出电平 检测样品:家庭影院用环绕声放大器 标准:家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000
检测项:线对与线对之间等电平远端串音 检测样品:建筑与建筑群综合布线系统工程光缆电气参数 标准:建筑与建筑群综合布线系统工程验收规范 GB 50312-2007
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:逻辑输出电压电平 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:载波机 标准:DL/T 790.31-2001采用配电线载波的配电自动化 第3部分:配电线载波信号传输要求 第1篇:频带和输出电平
检测项:充电输出要求 检测样品:电动汽车交流充电设备 标准:Q/GDW 235-2009 电动汽车非车载充电机通信协议
检测项:全部参数 检测样品:电力系统时间同步系统 标准:DL/T 1100.1-2009电力系统的时间同步系统 第1部分:技术规范
机构所在地:河南省许昌市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输出高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出逻辑电压电平 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>