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检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
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机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:低电平输入电流IIL 检测样品:微波组件 标准:1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法
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机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流(IIL) 检测样品:半导体集成电路数字集成电路 标准:半导体器件 集成电路第2部分:数字集成电路 GB/T17574-1998
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检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:低电平输出电流IOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输入低电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:输入电流 检测样品:晶体振荡器 标准:GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 (GB 3834-1983)
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996