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检测项:输入电压 检测样品:信息设备用不间断电源 标准:《信息设备用不间断电源通用技术条件》 GB/T14715-1993
检测项:输入电压 检测样品:信息设备用不间断电源 标准:信息设备用不间断电源通用技术条件 GB/T14715-1993
检测项:波形失真 检测样品:多功能标准源 标准:数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2015.1
检测项:输入钳位电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法2015.13
检测项:输入钳位电压 检测样品:电子元器件 标准:标志耐久 JESD22-B107D-2011
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:电压暂降和短时中断 检测样品: 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012
检测项:输入功率和电流 检测样品:家用和类似用途电器 标准:家用和类似用途电器的安全 第一部分:通用要求GB4706.1-2005
检测项:输入功率和电流 检测样品:洗衣机 标准:家用和类似用途电器的安全 洗衣机特殊要求GB 4706.24-2008
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入箝位电压VIK 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:骚扰电压 检测样品: 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) IEC 61000-3-2:2009
检测项:谐波电流 检测样品: 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) IEC 61000-3-2:2009
检测项:电压波动&闪烁 检测样品: 标准:电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动&闪烁的限值 IEC 61000-3-3:2008
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:输入/输出电压驻波比 检测样品:WCDMA移动通信网直放站 标准:《2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1554-2007
检测项:输入、输出电压驻波比 检测样品:CDMA数字蜂窝移动台 标准:《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方信网设备测试方法:移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC 023-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求:移动台》 YDC 015-2006 《cdma20
检测项:输入电压驻波比 检测样品:cdma2000 数字蜂窝移动台 标准:《2GHz cdma2000数字蜂窝移动通信网设备测试方法:移动台第1部分基本无线指标、功能和性能》 YD/T1576.1-2007 《800MHzCDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法:移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》 YDC
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:输入电压 检测样品:企业供配电系统 标准:电动机电能利用监测规范 DB37/T 119-2007
检测项:输入电流 检测样品:企业供配电系统 标准:电动机电能利用监测规范 DB37/T 119-2007
检测项:输入功率 检测样品:企业供配电系统 标准:电动机电能利用监测规范 DB37/T 119-2007
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入钳位电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入箝位电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>