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分离钳产品描述: 通常有二种型式:由中间连接的两片组成,头部为钳喙;或由头部、杆部和手柄组成,头部为一对带钳喙的叶片。一般采用不锈钢材料制成。非无菌提供。 分离钳预期用途: 用于分离组织。 分离钳品名举例: 分离钳、剥离钳、腹腔分离钳、喉分离钳 分离钳管理类别: Ⅰ 分离钳相关指导原则: 1、一次性使...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年02月15日
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:电压调整率SV 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法101;
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:零位电压 检测样品:旋转变压器 标准:GJB929A-1998 旋转变压器通用规范
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:微波组件 标准:1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法
检测项:输入失调电压VOS 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL 电路测试 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 (GB 3439-1982)
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:TTL 电路测试 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出电压VO 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:输入失调电压VIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电流IIO 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压VIK 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输入钳位电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>