输入高电平电流检测实验

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输出高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 （GB 3834-1983）

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：TTL 电路测试标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入高电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

机构所在地：上海市更多相关信息>>

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》