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检测项:截止态漏级漏电流 ID(off) 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:截止态源级漏电流 IS(off) 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市
检测项:漏电流Id 检测样品:电感器 标准:GB/T16512-1996 电子设备用固定电感器总规范
检测项:输出电流IO 检测样品:DC/DC转换器 标准:SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
机构所在地:河南省洛阳市
检测项:输出漏电流 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
检测项:正向栅源漏电流 检测样品:场效应管 标准:《半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管》GB/T4586-1994
检测项:漏电流 检测样品:电感器 标准:《云母电容器总规范》GJB1313-1991
机构所在地:江苏省扬州市