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防冲击眼护具检验规则
序号 |
检验项目 |
检验依据标准及条款 |
检验方法 |
1 |
可见光透射比 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.6.3 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.1.3 |
2 |
抗冲击性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.7 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.2 |
3 |
耐热性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.8 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.3 |
4 |
有机镜片表面 耐磨性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.10 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.5 |
5 |
防高速粒子 冲击性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.11 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.6 |
6 |
化学雾滴防护性能 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第5.12 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第6.8 |
7 |
标识 |
GB 14866-2006个人用眼护具技术要求 第7.2 |
检查 |
收起百科↑ 最近更新:2018年12月10日
检测项:密封性检查 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:外部目检 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:栅源极截止(漏泄)电流IGSS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:放大倍数(hFEL) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:集电极-基极击穿电压(V(BR)CBO) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
检测项:发射极-基极击穿电压(V(BR)EBO) 检测样品:场效应管 标准:半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97
机构所在地:陕西省西安市
检测项:栅-源击穿电压 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测项:漏-源通态电阻 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
检测项:零栅压漏极电流 检测样品:场效应晶体管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管
机构所在地:湖北省宜昌市