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最低成膜温度(Minimum filming temperature) 合成乳液体系形成连续胶膜的最低温度，称最低成膜温度，简称MFT 最低成膜温度 测试仪器：最低成膜温度测定仪 查看详情>>
最低成膜温度(Minimum filming temperature)
合成乳液体系形成连续胶膜的最低温度，称最低成膜温度，简称MFT
最低成膜温度测试仪器：最低成膜温度测定仪
收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日
检测项：贵金属覆盖层厚度及含量 检测样品：工艺饰品 标准：首饰 金覆盖层厚度的规定
检测项：贵金属覆盖层厚度及含量 检测样品：工艺饰品 标准：首饰 银覆盖层厚度的规定
检测项：贵金属覆盖层厚度及含量 检测样品：工艺饰品 标准：贵金属覆盖层饰品
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法 检测样品：钢铁 标准：《非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法》 GB/T 4957-2003
检测项：磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 检测样品：钢铁 标准：《磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法》 GB/T 4956-2003
检测项：部分参数 检测样品：铝及铝合金阳极氧化膜与有机聚合物膜 标准：《铝及铝合金阳极氧化膜与有机聚合物膜 第1部分：阳极氧化膜》 GB/T 8013.1-2007
机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>
检测项：金属覆盖层厚度 检测样品：金属及非金属制品 标准：GB/T 4955-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法
检测项：金属材料室温拉伸试验 检测样品：金属材料 标准：GB/T 12600-2005 金属覆盖层 塑料上镍+铬电镀层
检测项：金属覆盖层厚度 检测样品：金属及非金属制品 标准：GB/T 2423.17-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ka：盐雾试验方法
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：镀层厚度 检测样品：食品接触材料 标准：GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度的测量 X射线光谱方法 ISO 3497:2000 金属覆盖层 覆盖层厚度的测量 X射线光谱方法
检测项：磁性基质的非磁性镀层厚度 检测样品：食品接触材料 标准：GB/T 4956-2003 磁性基体上非磁性覆盖层. 覆盖层厚度测量. 磁性法 ISO 2178:1982 磁性基体上非磁性覆盖层. 覆盖层厚度测量. 磁性法
检测项：镀层厚度 检测样品：食品接触材料 标准：金属覆盖层 覆盖层厚度的测量 X射线光谱方法 GB/T 16921-2005 金属覆盖层 覆盖层厚度的测量 X射线光谱方法 ISO 3497:2000
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：全部项目 检测样品：电缆和光缆阻水带 标准：电缆和光缆阻水带JB/T10259-2001
检测项：全部项目 检测样品：光缆阻水纱 标准：军用光缆阻水纱规范 GJB5024-2003
检测项：全部项目 检测样品：通信电缆光缆用阻水带 标准：通信电缆光缆用阻水材料第1部分：阻水带 YD/T1115.1-2001
检测项：供油系统气阻 检测样品：汽车 标准：GB/T 12781-1991 汽车供油系气阻试验方法
机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项：散热器性能、风阻、水阻 检测样品： 标准：
机构所在地：山东省泰安市 更多相关信息>>
检测项：覆盖层厚度 检测样品： 标准：金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法GB/T16921-2005
检测项：覆盖层厚度 检测样品： 标准：碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法GB/T4336-2002
检测项：覆盖层厚度 检测样品： 标准：铜及铜合金分析方法 YS/T482-2005
机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>
检测项：覆盖 （涂、镀） 层厚度测量 检测样品：金属材料 及构件 标准：磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 GB/T 4956-2003
检测项：显微硬度 检测样品：金属和 金属制品 标准：金属覆盖层及其他有关覆盖层 维氏和努氏显微硬度试验 GB/T 9790-1988
机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项：磁性基体上非磁性覆盖层厚度 检测样品：金属材料 标准：磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 GB/T 4956-2003
检测项：非磁性基体上非导电覆盖层厚度 检测样品：金属材料 标准：非磁性基体上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法 GB/T 4957-2003
检测项：膜层的均匀性 检测样品：眼镜镜片 标准：镀膜眼镜镜片减反射膜层性能质量要求 QB 2682-2005
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
