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检测项：电流倍率对应的电阻误差 检测样品：总有机碳分析仪 标准：《总有机碳分析仪》 HJ/T 104-2003
检测项：电流倍率对应的电阻误差 检测样品：极谱仪 标准：《极谱仪》 JB/T 5224-1991
检测项：全项目 检测样品：电流互感器 标准：电流互感器 GB1208-2006
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：集电极－发射极暗电流或集电极－基极暗电流（适用时） ICBO 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》
检测项：集电极－基极截止电流（反向电流）（ICBO） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》
检测项：发射极电流为零时的最高集电极－基极电压（VCBO） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：集电极--基极击穿电压BVCBO 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管》
检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994
检测项：集电极-基极截止电流ICBO 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管
检测项：集电极漏电流Icos 检测样品：模拟乘法器 标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994
检测项：集电极-发射极击穿电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：集电极-基极截止电流Icbo 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项：集电极-基极击穿电压BVcbo 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项：集电极-发射极击穿电压BVceo 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项：集电极--发射极饱和电压VCES 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：集电极-基极电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项：集电极-发射极电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
检测项：集电极-发射极饱和电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995
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