中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：三极管延迟时间td 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：启动延迟时间tTR 检测样品：PWM脉宽调制电路 标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范

检测项：启动延迟时间tTR 检测样品：PWM脉宽调制电路 标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：选通延迟时间 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极控制延迟时间、开通时间 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：端到端的信息延迟时间 检测样品：城市监控报警联网系统 标准：城市监控报警联网系统 合格评定 第1部分：系统功能性能检验规范GA793.1-2008

检测项：IP网络端到端的信息延迟时间 检测样品：银行安全防范报警监控联网系统 标准：《银行安全防范报警监控联网系统技术要求》 GB/T16676-2010

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：传输延迟时间tpd 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：传输延迟时间tpd 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

安徽省电子产品监督检验所

检测项：端到端的信息延迟时间 检测样品：城市监控报警联网系统 标准：城市监控报警联网系统技术标准 第1部分： 通用技术要求 GA/T669.1-2008

检测项：端到端的信息延迟时间 检测样品：城市监控报警联网系统 标准：城市监控报警联网系统技术标准 第1部分： 通用技术要求GA/T669.1-2008

机构所在地：安徽省合肥市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：延迟时间 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第6.6、6.7、6.8、6.9、6.10、6.11条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：延迟时间 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>