额定输出电流偏离值检测实验

羟值

简介

羟值(Hydroxylvalue) 1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。羟值测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式查看详情>>

羟值

简介

羟值(Hydroxylvalue)

1g样品中的羟基所相当的氢氧化钾(KOH)的毫克数，以mg KOH／g表示。

羟值测试仪器：针入度电脑式、针入度数显式

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羟值

收起百科↑ 最近更新：2017年03月21日

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：高电平输出电流检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：低电平输出电流检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出电流检测样品：混合集成电路标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　 SJ20646-1997

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出电流IO 检测样品：DC／DC变换器标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》

检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

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深圳中航技术检测所

检测项：输出电流检测样品：耐压测试仪标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：输出电流检测样品：接地导通电阻测试仪标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范

检测项：输出电流波动检测样品：接地导通电阻测试仪标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范

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湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：输出电流峰值系数检测样品：人民币鉴别仪※ 标准：人民币鉴别仪通用技术条件 GB 16999-2010

检测项：源电压阶跃时输出电压最大过冲幅值检测样品：稳压电源※ 标准：抗干扰型交流稳压电源测试方法 SJ/T 10542-1994

检测项：负载阶跃时输出电压最大过冲幅值检测样品：稳压电源※ 标准：抗干扰型交流稳压电源测试方法 SJ/T 10542-1994

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北京市计量检测科学研究院

检测项：电压校准功能最大输出电流检测样品：多功能标准源标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：电压校准功能最大输出电流检测样品：示波器标准：通用阴极射线示波器测试方法 GB 6585-1996

检测项：偏离零位检测样品：直接作用模拟指示电测量仪表及其附件标准：《直接作用模拟指示电测量仪表及附件》 GB/T 7676.1~9-1998

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出短路电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出高电平电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1

检测项：输出短路电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1

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广东产品质量监督检验研究院认证与测量工程部

检测项：电流检测样品：灯座连接安全性试验装置标准：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范

检测项：交流电压检测样品：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪标准：CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范

检测项：功率因数检测样品：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪标准：CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范

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中国测试技术研究院

检测项：电子单元在最大负荷下输出电流误差检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：电子单元在最大负荷下输出电流误差检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：电子单元输出电流误差检测样品：电导(率) 仪标准：《电导率仪试验方法》 GB 11007-2008 《实验室电导率仪》 JB/T 9366-1999 《工业电导率仪》 JB/T 6855-1993

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

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