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检测项：晶格常数 检测样品：半导体材料 标准：转靶多晶体X射线衍射方法通则； JY/T 009-1996 金属点阵常数的测定方法 YB/T5337-2006 III族氮化物外延片晶格常数测试方法ZKB 0045-2013
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：晶粒尺寸 检测样品：植物多晶体 标准：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X 射线衍射线宽化法 GB/T 23413-2009 转靶多晶体X射线衍射方法通则 JY/T 009-1996
检测项：铯,铍,银,钡,钙,镉,钴,铜,钾,镁,锰,铅,锶,锌,铝,铁,锂,钼,镍,钠,钛,硼,铬,硅,金,铋,汞,铊,锗,锡,砷,锑,硒,铂,钨 检测样品：无机化合物元素的定性、定量 标准：转靶多晶体X射线衍射仪方法通则 JY/T 009-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
