JESD22-A117E电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）程序/擦除耐久性和数据保持应力测试（En,24页）

• 资料介绍

  JESD22-A117E 电可擦除可编程只读存储器（EEPROM）程序/擦除耐久性和数据保持应力测试

  JESD22-A117E  Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test

  本标准规定了根据鉴定规范进行有效耐久性、保持性和交叉温度试验的程序要求。JESD47中规定了耐久性和保留鉴定规范（针对循环计数、持续时间、温度和样本量），或者可以使用JESD94中基于知识的方法制定。
  使用JESD47中规定的参数级别进行鉴定和监测的程序/擦除耐久性和数据保留测试被认为是破坏性的。当温度和时间达到或超过鉴定要求时，数据保持应力可以用作替代高温储存寿命测试的代理。当证明在低温下编程和在高温下读取的敏感性时，可以考虑在数据表温度范围内进行跨温度写入和读取测试，反之亦然。只要设备制造商已经验证这些参数水平是无损的，就可以使用较小的测试参数水平（例如，温度、循环次数、保温烘烤持续时间）进行筛选；这可以在从晶圆级到成品器件的任何地方进行。
   

• 资料大小：
  277.82KB
• 所属类别：
  法规标准
• 更新日期：
  2023-04-17
• 适用行业：
  电子电气
• 上传人：
  JunYu
• 标 签：

  存储器 应力测试

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