海思HAST测试技术规范V1.2（5页） 适用范围: 该试验检查芯片长期贮存条件下，高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求，仅针对非密封封装(塑料封装)，带偏置bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。 简介: 该试验通过温度、湿度、大气压力加速条件，评估非密封封装器件在上电状态下，在高温、高压、潮湿...
海思消费类芯片可靠性测试技术总体规范V2.0（10页） 适用范围: 本规范规定了芯片可靠性测试的总体规范要求，包括电路可靠性、封装可靠性。适用于量产芯片验证测试阶段的通用测试需求，能够覆盖芯片绝大多数的可靠性验证需求。具体的执行标准可能不是本规范文档，但来源于该规范。本规范描述的测试组合可能不涵盖特定芯片的所有使用环境，但可以满足绝大多数芯片的通用验证需求。 &nbs...
洁净区净化空调系统基础知识培训教材.ppt（34页） 课程目标： 1、了解净化空调实际使用要求 2、了解空调结构及功能实现原理 3、熟悉空调系统相关的测试活动
潜在失效模式及后果分析 (FMEA) 目录 1.作为一个团队，如何创建 FMEA 及相关的行动计划 2.FMEA过程如何与过程图相连接 3.失效模式，起因和后果之间的关系 4.不同类型的FMEA
电源芯片失效分析案例集（61页） 目录 1.电源芯片常见失效模式和失效机理3 2.电源芯片失效案例3 案例1（Boost电路输入冲击电流大）3 LT1308B起机冲击电流案例分析3 案例2（复位芯片---WDI信号过冲问题）8 MAX6316复位异常分析8 案例3（电源芯片环路补偿问题）11 TPS40077电源输出异常...
XXX单板硬件测试用例模板.doc（9页） 目录 1.模版使用说明 2.用例模版 3.信号质量测试用例 3.1.单端时钟信号质量测试用例 3.2.单端非时钟信号质量测试用例模板 3.3.差分信号质量测试用例模板 4.电源质量测试用例模板 4.1.各芯片电源质量测试用例模板 4.2.单板内各种电源上下电时间测试用例...
软件开发计划书模板（多文件）.doc 目录 任务申请.doc 可行性与计划阶段--可行性研究报告.doc 可行性与计划阶段--项目开发计划.doc 需求分析阶段--数据要求说明书.doc 需求分析阶段--需求说明书.doc 需求分析阶段--用户手册概要.doc 概要设计阶段--概要设计说明书的.doc 概要设计阶段--数...
新威布尔手册The New Weibull Handbook英文原版书籍，讲解浅显易懂，配以大量案例，十分适合自学威布尔分析，分析产品的可靠性。
GB/T 34987-2017 威布尔分析标准（61页） 本标准提供了利用连续变量(失效时间、失效里程或机械应力等)分析威布尔数据的方法。 本标准适用于随机样本在试验条件或工作条件下得到的有效失效数据(如失效时间、失效里程或机械应力等)。其目的是估计总体的可靠性水平。 本标准适用于独立同分布数据。独立同分布需要检验或假定成立(见GB/T5080.1)。 本标准...
