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检测项：连续波辐射骚扰 检测样品：电工电器产品 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) IEC 61000-3-2: 2005 +A1:2008+A2: 2009 EN 61000-3-2: 2006 +A1:2009+A2: 2009
检测项：连续波射频骚扰 检测样品：电工电器产品（EMC） 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006 +A1:2009+A2:2009
检测项：射频电压差模输入抗扰度 检测样品：音视频设备 （EMC） 标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 EN 55020:2007 +A11:2011 CISPR 20:2006
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 检测样品：信息技术 设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.4-2008
检测项：性能指标 检查 检测样品：居民身份证阅读器 标准：台式居民身份证阅读器通用技术要求 GA450-2003
检测项：浪涌（冲击）抗扰度试验 检测样品：信息技术 设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 浪涌（冲击）抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项：谐波发射限值 检测样品：信息技术 设备 标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项：频率漂移 检测样品：电工电子 产品 标准：GB/T15541-1995 发射频率的测量方法
检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009
检测项：交流输入电压 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机锂电池充电器的安全要求和试验方法 YD1268.2-2003
检测项：辐射杂散骚扰 检测样品：移动通信手持机 标准：通用移动通信系统（UMTS）；移动台和附件电磁兼容（EMC） 3GPP TS 34.124 :2010
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项：PIN输入过程中监控 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
检测项：输入PIN区别 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
检测项：PIN输入过程中可听到的音调 检测样品：银联PIN输入设备安全 标准：
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：灵敏度 检测样品：微波频率计 标准：微波频率计通用规范 SJ20585-1996
检测项：动态范围 检测样品：微波频率计 标准：微波频率计通用规范 SJ20585-1996
检测项：准确度 检测样品：微波频率计 标准：微波频率计通用规范 SJ20585-1996
检测项：频率偏差 检测样品：电能质量 标准：《电能质量 电力系统频率偏差》 GB/T 15945-2008
检测项：谐波电流 检测样品：电子、电气设备（EMC） 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2003 电磁兼容 第3-2部分：限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000
机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项：频率允差测试 检测样品：电能质量 标准：电能质量电力系统频率允许偏差GB/T 15945-2008
检测项：绕组频率 响应 检测样品：电力变压器 标准：电力变压器绕组变形的频率响应分析法 DL/T911-2004
检测项：测量元件的准确度 检测样品：自动低频减载装置 标准：数字型频率继电器及低频自动减负荷装置技术条件DL/T 525-1993
检测项：频率范围 检测样品：频率 计数器 标准：频率计数器通用技术条件 GB/T 15151.1-1994频率计数器测试方法 GB/T 15151.2-1994
检测项：输入零电流 检测样品： 标准：
检测项：最大输入电压 检测样品： 标准：
机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998
