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腔静脉滤器产品描述:通常由腔静脉滤器和/或输送系统组成。腔静脉滤器一般采用金属材料制成。经腔放置的植入物扩张后通过机械过滤的方式来预防肺栓塞。 腔静脉滤器预期用途:用于机械过滤下腔静脉来预防肺栓塞。 腔静脉滤器品名举例:永久腔静脉滤器、可回收腔静脉滤器、可转换回收腔静脉滤器 腔静脉滤器管理类别:Ⅲ 腔静脉滤器相关标准: 1.心血管植...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月04日
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
检测项:输入低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.3条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出低电平阈值电压 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:DC/DC模块 标准:SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:低电平输出电流IOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出低电平电源流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:全部项目 检测样品:隔爆型转换开关 标准:JB/T9650-1999《隔爆型转换开关》 MT847-2011《煤矿用隔爆型转换开关》
检测项:部分项目 检测样品:矿用信号转换器、矿用信号中继器 标准:MT/T1006-2006《矿用信号转换器》
检测项:部分项目 检测样品:矿用输送带机械接头用带扣 标准:MT/T319-2006《煤矿输送带机械接头用带扣》
机构所在地:辽宁省抚顺市 更多相关信息>>