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微生物比浊仪器相关标准: 1、YY/T 0688.2-2010 临床实验室检测和体外诊断系统-感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 第2部分:抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 2、YY/T 0656-2008 自动化血培养系统 3、YY/T 0688.1-2008 临床实验室检测和体外诊断系统 感染病原体敏感性试验与抗菌剂敏感性试验设备的性能评价 第1部分:...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月22日
检测项:激光光束传输系统效率的检验 检测样品:连续波掺钕钇铝石榴石激光治疗机 标准:连续波掺钕钇铝石榴石激光治疗机通用技术条件 YY0 307-2004 医用电气设备环境要求及试验方法 GB/T 14710-2009
检测项:光束方向偏移 检测样品:气体激光器 标准:气体激光器光束方向偏移的测试方法 SJ 1877-1981
检测项:配光性能 检测样品:反光灯 标准:反光灯中心光束强度和光束角度的测量方法 GB/T19658-2005; IEC/TR 61341-2010
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:中心强度和光束角 检测样品:反光灯中心光束强度和光束角度 标准:反光灯中心光束强度和光束角度的测量方法 GB/T 19658-2005
检测项:中心强度和光束角 检测样品:LED测量 标准:反光灯中心光束强度和光束角度的测量方法 IEC/TR 61341:2010
机构所在地:河北省秦皇岛市 更多相关信息>>
检测项:电流传输比hF(ctr) 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
检测项:正向电流传输比hFE 检测样品:晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:偏振串音 检测样品:光纤 标准:偏振保持光纤规范 GJB 3494-1998
检测项:衰减 检测样品:光纤 标准:光纤试验方法规范 第40部分:传输和光学特性的测量方法和试验程序—衰减 GB/T 15972.40-2008
检测项:电流传输比 检测样品:继电器 标准:半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.10-1982
检测项:电源电压抑制比 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路 测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:共发射极静态电流传输比HFE 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:共摸抑制比KCMR 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:分压比η 检测样品:双基极单结晶体管 标准:SJ/T10333-1993 单结晶体管测试方法
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:载噪比 检测样品:CATV传输设备 标准:GY/T 143-2000 有线电视系统调幅激光发送机和接收机入网技术条件和测量方法
检测项:传输性能要求 检测样品:SDH/PDH光传送设备 标准:YD/T 1078-2000 SDH传输网技术要求-网络保护结构间的互通
检测项:OLT、ONU线路传输光接口的特性 检测样品:基于PON传输的光接入网设备 标准:YD/T 1077-2000 接入网技术要求-窄带无源光网络(PON)
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:电流传输比CTR 检测样品:晶闸管 标准:GB/T15291-94《半导体器件 第6部分 晶闸管》
检测项:共发射极正向电流传输比的静态值(h21E) 检测样品:场效应晶 体管 标准:GB/T 4586-94《半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管》
检测项:接触卡电信号和传输协议 检测样品:IC卡 标准:GB/T 16649.3-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分:电信号和传输协议 ISO/IEC 7816-3:2006(E) 识别卡-带触点的集成电路卡-第三部分:电信号和传输协议
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:半导体 晶体三极管 标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-97
检测项:共发射极正向电流传输比 检测样品:半导体 晶体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分第4章:双极型晶体管GB/T4587-1994
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:电流传输比hF (ctr) 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:负电源电压抑制比KSVR- 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范