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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下,纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。 熔点 测试方法: 毛细管法 ...查看详情>>
熔点是在一定压力下,纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。
熔点测试方法:毛细管法
熔点测试仪器:
收起百科↑ 最近更新:2017年03月13日
机构所在地:广东省广州市
检测项:基本功能测试 检测样品:功率放大器 标准:GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范
检测项:谐波输出 检测样品:功率放大器 标准:GJB3258-1998通信干扰功率放大器通用规范
检测项:电压驻波比 检测样品:微波器件 标准:GJB2650-1996微波元器件性能测试方法
机构所在地:河南省郑州市
检测项:工频磁场抗扰度 检测样品:汽车电子零部件 标准:《电磁兼容 试验和测量工频磁场抗扰度试验》 GB/T 17626.8-2006 IEC 61000-4-8:2009
机构所在地:上海市
检测项:动态力 检测样品:隔振器、缓冲元件、挠性接管 标准:Q/702J0610-2010《缓冲元件动态特性曲线与参数试验规程》
检测项:动态线位移 检测样品:隔振器、缓冲元件、挠性接管 标准:Q/702J0610-2010《缓冲元件动态特性曲线与参数试验规程》
机构所在地:江苏省无锡市
检测项:温度上限 检测样品:微型计算机 标准:微型计算机通用规范 GB/T 9813-2000
检测项:动态开放端口 检测样品:防火墙 标准:信息安全技术 防火墙技术要求和测试评价方法GB/T20281-2006
机构所在地:福建省福州市
检测项:工作温度上限试验 检测样品:**集成电路(IC)卡读写机 标准:《集成电路(IC)卡读写机通用规范》GB/T18239-2000
检测项:贮存温度上限试验 检测样品:**集成电路(IC)卡读写机 标准:《集成电路(IC)卡读写机通用规范》GB/T18239-2000
机构所在地:北京市