失效分析检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索条件所在地区: 所属类别:

恩斯迈电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：合金粉粒度与大小分布检测样品：电子电气产品（失效分析）标准：焊锡膏 JIS Z 3284-1994 附件1之2.2

检测项：合金粉粒度与大小分布检测样品：电子电气产品（失效分析）标准：焊锡膏 JIS Z 3284-1994 附件1之2.2

检测项：金属含量（锡、银、铜）检测样品：电子电气产品（失效分析）标准：电子设备用电子级锡焊合金、带焊剂及不带焊剂整体焊料技术要求 IPC J-STD-006: 1995

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

检测项：外部检查检测样品：发光二极管 (LED) 标准：微电路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003

检测项：成分定量分析检测样品：固体材料/液体材料 (环氧树脂) 标准：微束分析能譜法定量分析 GB/T 17359-2012

机构所在地：广东省惠州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备标准：系统可靠性分析技术失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

检测项：可靠性设计评定检测样品：仪器仪表、电工电子、军用产品标准：故障模式、影响及危害分析程序 GJB 1391–2006

检测项：静电放电抗扰度试验检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备标准：故障树分析程序 GB/T 7829-1987

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：扫描电子显微技术和电子束显微分析检测样品：电阻器/电容器标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：阈值试验检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘检测样品：集成电路/微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：细检漏检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：细检漏检测样品：微电子器件标准：微电子器件试验方法和程序微电路的失效分析程序 GJB 548B－2005

检测项：能谱分析检测样品：PCBA 标准：微束分析能谱法定量分析 GB/T 17359-2012

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
莱茵技术监护（深圳）有限公司

检测项：通讯失效分析检测样品：锂电池标准：关于电池系统符合IEEE1625认证的要求Revision 1.5

检测项：失效分析检测样品：锂电池标准：关于电池系统符合IEEE1725的认证要求Revision 2.2

检测项：通讯失效分析检测样品：锂电池标准：联合国《关于危险货物运输的建议书试验和标准手册》 ST/SG/AC.10/11/Rev.5 38.3试验IEEE 1625-2008 IEEE关于笔记本电脑用可充电电池的标准IEEE 1725-2011 IEEE关于移动电话用可充电电池的标准关于电池系统

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京玻璃钢研究设计院有限公司检测中心

检测项：纤维增强塑料短时水压失效压力检测样品：复合材料标准：GB/T5351-2005《纤维增强热固性塑料管短时水压失效压力试验方法》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
河北省产品质量监督检验院

检测项：纤维增强热固性塑料管短时水压失效压力检测样品：玻璃钢标准：纤维增强热固性塑料管短时水压失效压力试验方法GB/T5351-2005

检测项：部分参数** 检测样品：转向节标准：轮式拖拉机转向节技术条件JB/T5182-1991

检测项：分析水检测样品：煤标准：煤的工业分析方法 GB/T 212-2008

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京市电子产品质量检测中心

检测项：水试验检测样品：报警系统环境试验标准：设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间验证试验方法 GB/T 5080.7—1986

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

恩斯迈电子（深圳）有限公司检测中心

惠州科锐半导体照明有限公司光电实验室

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

上海仪器仪表自控系统检验测试所

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

中兴通讯股份有限公司材料实验室

莱茵技术监护（深圳）有限公司

北京玻璃钢研究设计院有限公司检测中心

河北省产品质量监督检验院

北京市电子产品质量检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务