北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：反向漏电流Ir 检测样品：晶闸管 标准：GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：反向漏电流IR 检测样品：二极管 标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

检测项：正向栅源漏电流Igssf 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东方日升新能源股份有限公司实验室

检测项：漏电流测试 检测样品：光伏组件 标准：UL1703:2005 平板型太阳能组件安全认证标准

检测项：湿漏电试验 检测样品：光伏组件 标准：IEC 61215:2005 地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型

检测项：湿漏电试验 检测样品：光伏组件 标准：IEC61730-2:2004光伏组件安全鉴定——试验要求

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

苏州快可光伏电子股份有限公司检测实验室

检测项：湿漏电流试验 检测样品：光伏 系统 用连 接器 标准：光伏系统用连接器-安全和测试要求 EN 50521:2008

检测项：湿漏电流试验 检测样品：光伏 组件 用接 线盒 标准：光伏组件用接线盒－安全和测试要求 EN 50548:2011

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

乐清市科技孵化创业中心电器可靠性实验室

检测项：成功率等级 检测样品：漏电断路器 标准：GB/Z22202-2008家用和类似用途的剩余电流动作断路器的可靠性试验方法

检测项：操作可靠性试验 检测样品：漏电断路器 标准：GB/Z22202-2008家用和类似用途的剩余电流动作断路器的可靠性试验方法

检测项：失效率等级 检测样品：小型断路器 标准：GB/Z22203-2008家用和类似用途的过电流保护断路器的可靠性试验方法

机构所在地：浙江省乐清市 更多相关信息>>

西安交通大学飞机雷电防护实验室

检测项：对地注入试验 检测样品： 标准：

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997方法4011

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.1条

检测项：栅极漏电流 检测样品：场效应 晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

广东省江门市质量计量监督检测所检测实验室

检测项：部分参数 检测样品：漏电自动开关 标准：剩余电流动作保护电器的一般要求 GB/Z 6829-2008

检测项：部分参数 检测样品：漏电自动开关 标准：家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB)第1部分：一般规则 GB 16916.1-2003

检测项：部分参数 检测样品：漏电自动开关 标准：家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO) 第1部分：一般规则 GB 16917.1-2003

机构所在地：广东省江门市 更多相关信息>>

中达电子（江苏）有限公司分析实验室

检测项：ICBO:集电极与基极间反向漏电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：ICEO:集电极与发射极间反向漏电流 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

检测项：谐波电流发射 检测样品：电子电气设备 标准：GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2:2006+A2:2009 IEC61000-3-2:2005 +A1:2008+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值 (设备每相输入电流≤16A)

机构所在地： 更多相关信息>>

江苏苏美达五金工具有限公司测试中心

检测项：10.15 湿漏电流试验 检测样品：地面用晶体硅光伏组件 接线盒 标准：地面用晶体硅光伏组件—设计鉴定和定型 IEC 61215-2005

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：漏电流(IO) 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T 2693-2001

检测项：反向漏电流（IR） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：反向栅源漏电流（IGSSR） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>