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检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:音频设备 标准:IEEE Std 149-1979 (R2008)天线测试标准
检测项:最大输出电压 检测样品:信息技术设备(安全)信息技术设备(安全) 标准:EN50332-2:2003 音响系统设备:与便携音响设备相应的耳机和头戴式耳机.最大声音压力水平测量方法和限制考虑.第2部分:耳机或设备单独提供
检测项:最大声压 检测样品:信息技术设备(安全)信息技术设备(安全) 标准:EN50332-1:2000 音响系统设备:与便携音响设备相应的耳机和头戴式耳机.最大声音压力水平测量方法和限制考虑.第1部分:单一包装设备的一般方法
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:天线增益 检测样品:移动通信天线 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项:天线增益 检测样品:天线 标准:IEEE天线测试标准流程 ANSI/IEEE Std 149-1979
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:增益 检测样品:电磁继电器 标准:GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项:开环电压增益 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:增益误差EG 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路
检测项:开环电压增益 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入高电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入低电平电压 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:TTL电路、COMS电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益AVO 检测样品:运算放大器 标准:GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>