您当前的位置:首页 > 标称上行端口输入电平
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:北京市
检测项:部分项目 检测样品:电磁兼容/仪器仪表设备(单相设备) 标准:测量,控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求要求 EN 61326-1:2006 GB/T 18268.1-2010
机构所在地:广东省深圳市
检测项:电快速瞬变脉冲群抗扰度 检测样品:电气照明和类似设备 标准:电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.4-2008 IEC 61000-4-4:2012
检测项:浪涌(冲击)抗扰 检测样品:电气照明和类似设备 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰试验 GB/T 17626.5-2008 IEC 61000-4-5:2005
检测项:总输入功率 检测样品:照明灯具 标准:灯具性能一般要求 IEC/PAS 62722-1:2011 LED灯具特殊要求 IEC/PAS 62722-2-1:2011
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:浙江省杭州市
检测项:电信端口的传导共模骚扰 检测样品:信息技术设备(EMC) 标准:信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010 EN 55024:2010
机构所在地:北京市
机构所在地:上海市
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:数字集成电路 标准:GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》
机构所在地:江苏省连云港市