气压范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：低气压检测样品：电子元器件及设备气候试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：低气压检测样品：电子元器件及设备气候试验标准：3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序

检测项：低气压检测样品：电子元器件及设备气候试验标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 5、GJB 3

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上海市检测中心生物与安全检测实验室

检测项：蒸汽压检测样品：化学品标准：GB/T 22228-2008 工业用化学品固体及液体的蒸气压在10-1Pa至105Pa 范围内的测定静态法

检测项：熔点/熔点范围检测样品：化学品标准：GB/T 21781-2008 化学品的熔点及熔融范围试验方法毛细管法

检测项：水溶解度检测样品：化学品标准：ASTM D6378-2010 测定石油产品、碳氢化合物和氧化烃类混合物的蒸气压力(Vpx)的试验方法(三胀法)

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庆安集团有限公司检测与环境实验中心

检测项：低气压（高度）检测样品：航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品标准：《军用设备环境试验方法低气压（高度）试验》GJB150.2-1986

检测项：低气压（高度）检测样品：航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品标准：《机载设备环境条件及试验方法低气压（高度）》HB5830.14-1996

检测项：低气压（高度）检测样品：航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品标准：《军用装备实验室环境试验方法第2部分低气压（高度）试验》GJB150.2A-2009

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北京航空航天大学航空可靠性综合重点实验室

检测项：温度-湿度-振动-高度试验检测样品：军用设备及电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AM:低温／低气压综合试验 GB/T 2423.25-2008

检测项：温度-湿度-振动-高度试验检测样品：军用设备及电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/BM:高温／低气压综合试验 GB/T 2423.26-2008

检测项：温度-湿度-振动-高度试验检测样品：军用设备及电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD: 低温/低气压/湿热连续综合试验 GB/T 2423.27-2005

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北京光华无线电厂检测试验中心

检测项：低气压试验检测样品：电工电子产品、军用设备标准：电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法 GB/T 2423.21-2008

检测项：标准大气压条件下的剥离强度检测样品：标准：

检测项：低气压试验检测样品：电工电子产品、军用设备标准：军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-2009

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：低气压（高度）试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法低气压（高度）试验 GJB150.2-1986

检测项：低气压（高度）试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用装备实验室环境试验方法低气压（高度）试验GJB150.2A-2009

检测项：温度-高度试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度-高度试验 GJB150.6-1986

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：温度-高度试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度-高度试验 GJB 150.6-86

检测项：温度-高度试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度-高度试验 GJB 150.6-86

检测项：温度-湿度-高度试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度-湿度-高度试验 GJB 150.19-86

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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：波长范围两端处相对衍射效率与最大相对衍射效率比值检测样品：军用装备、光学仪器标准：GJB150.2A-2009《军用装备实验室环境试验方法》第2部分低气压（高度）试验、GB/T12085.5-2010《光学和光学仪器环境试验方法》

检测项：低气压（高度）试验检测样品：军用装备、光学仪器标准：GJB150.2A-2009《军用装备实验室环境试验方法》第2部分低气压（高度）试验、GB/T12085.5-2010《光学和光学仪器环境试验方法》

检测项：特征测温范围检测样品：红外热像仪标准：GB/T 19870-2005 《工业检测型红外热像仪》

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河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：温度/高度试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AM：低温/低气压综合试验 GB/T2423.25-2008

检测项：低气压试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压 GB/T2423.21-2008

检测项：霉菌试验检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BM：高温/低气压综合试验 GB/T 2423.26-2008

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：低温低气压检测样品：标准：GB/T2423.25-2008电工电子产品环境试验，第2部分试验Z/AM

检测项：高温低气压检测样品：标准：GB/T2423.26-2008电工电子产品环境试验，第2部分试验Z/BM

检测项：低气压(高度)试验检测样品：电子元器件(气候试验) 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序，方法1001 2.GJB360B-2009电子及电气元件试验方法，方法105 3.GJB150.2A-2009军用设备环境环境试验方法，第2部分 4.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法

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