信息技术设备中谐波电流的检测

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：静态电源电流 ID 检测样品：A/D转换器 标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出电压VO 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996

检测项：直流电流功能准确度 检测样品：数字多用表校准仪 标准：数字多用表校准仪通用技术条件BG/T15637-1995

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：备用消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：备用消耗电流变化ΔID 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：断态电流(ID) 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：备用消耗电流和备用消耗电流变化 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理　 GB/T14029-1992

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：备用消耗电流和备用消耗电流变化 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：消耗电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：门极触发电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：备用消耗电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：备用消耗电流变化 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 、 方法4016

检测项：大电流注入（BCI）法 检测样品：机动车电子电器组件 标准：机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法 GB/T17619-1998

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：备用消耗电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：备用消耗电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：电流传输比 检测样品：光耦合器 标准：（2）半导体器件光电子器件分规范 GB 12565-1990

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

启明信息技术股份有限公司检测中心

检测项：消耗电流试验 检测样品：汽车电子电气零部件通用电气性能试验 标准：《红旗轿车音响产品通用环境试验》 F01 P-HQ-7900-1 -2006

检测项：静电流试验 检测样品：汽车电子电气零部件通用电气性能试验 标准：《道路车辆 电气机电子设备的环境条件和试验第2部分：电气负荷》 ISO 16750-2 2010

检测项：静电流试验 检测样品：汽车电子电气零部件通用电气性能试验 标准：《红旗轿车音响产品通用环境试验》 F01 P-HQ-7900-1 -2006

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>