中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：触发电压VTR 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：触发电流ITR 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电压的最大值VGT 检测样品：闸流晶体管 标准：GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分：晶闸管

检测项：控制极触发电流的最大值IGT 检测样品：半导体分立器件外壳 标准：1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：复位触发电流IR 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：触发电压VTR 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：触发电流ITR 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：触发电压 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：触发电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：同步（触发） 特性 检测样品：平面光学元件 标准：GB/T 2831-2009 《光学元件的面形 偏差》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极触发电流/电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：门极不触发电压/电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：触发电流 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：触发电压 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992

检测项：门极触发电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

广东坚朗五金制品股份有限公司实验中心

检测项：触发部件强度 检测样品：自动门 标准：自动门JG/T177-2005

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：触发电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：触发电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：触发电压 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：触发电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：门极触发电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T15291-1994 第5.1.2 、5.1.5 、5.1.6、 5.1.7条

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>