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检测项:恒定加速试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997
机构所在地:北京市
检测项:冲击试验 检测样品:电子电气产品可靠性安全检测(环境试验) 标准:GB/T2423.5-1995《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击》
检测项:振动试验 检测样品:电子电气产品可靠性安全检测(环境试验) 标准:GB/T2423.10-2008《电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)》
机构所在地:北京市
机构所在地:江苏省南京市
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:浙江省杭州市
检测项:振动试验 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准MIL-STD-883G-2006 方法2005.2、2006.1、2007.3、2026
机构所在地:江苏省无锡市
检测项:加速度试验 检测样品:机电 产品 标准:军用设备环境试验方法 加速度试验 GJB150.15-1986
检测项:加速度试验 检测样品:机电 产品 标准:机载设备环境条件及试验方法 恒加速度 HB5830.4-1982
机构所在地:天津市