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检测项：交流输入电压 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机锂电池充电器的安全要求和试验方法 YD1268.2-2003
检测项：射频辐射和接收性能 检测样品：移动通信手持机 标准：《移动台空间射频辐射功率和接收机性能测试方法》YD/T 1484-2011
检测项：外观、包装和装配 检测样品：GSM数字移动终端（含手持机、车载终端和其他终端设备） 标准：2GHz TD-SCDMA 移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1977-2009
机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项：不带安全属性的用户数据输入 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006 信息安全技术 智能卡嵌入式软件安全技术要求(EAL4增强级)
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：不带安全属性的用户数据输入 检测样品：智能卡嵌入式软件 标准：《信息安全技术智能卡嵌入式软件安全技术要求（EAL4增强级）》 GB/T 20276-2006
检测项：射频电磁场 检测样品：低压电气设备及电子设备 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限制（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2: 2006 IEC 61000-3-2: 2009
检测项：工频磁场 检测样品：低压电气设备及电子设备 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限制（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2: 2006 IEC 61000-3-2: 2009
检测项：电快速瞬变脉冲群 检测样品：低压电气设备及电子设备 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限制（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 EN 61000-3-2: 2006 IEC 61000-3-2: 2009
检测项：全部参数 检测样品：灯具 标准：GB 17625.1-2003/IEC61000-3-2:2009+C1:2009 电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项：全部参数 检测样品：灯具 标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC61000-3-2:2009+C1:2009
检测项：电压、电流、功率测量 检测样品：平板光伏（PV）组件和电池板 标准：UL1703：2004 《平板光伏（PV）组件和电池板》，第20条款
机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项：最大输入电平 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动台 标准：YD/T 1368.1－2008 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法 第一部分
检测项：最大平均功率及功率级控制 检测样品：GSM数字蜂窝移动台(GSM) 标准：YD/T 1215-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备测试方法：移动台》 YD/T 1214-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备技术要求：移
检测项：最大平均功率及功率级控制 检测样品：GSM数字蜂窝移动台(GPRS) 标准：YD/T 1215-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备测试方法：移动台》 YD/T 1214-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备技术要求：移
机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项：谐波电流 检测样品：LED模块 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012
检测项：灯功率 检测样品：灯的控制装置 标准：普通照明用自镇流荧光灯能效限定值及能效等级 GB 19044-2003
检测项：灯的功率和电流 检测样品：荧光灯用镇流器 标准：管形荧光灯用镇流器性能要求 GB/T 14044-2008
机构所在地：浙江省绍兴市 更多相关信息>>
