深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 GB 4943-2011

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：IEC 60950-1:2005+A1:2009

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 AS/NZS 60950.1-2011

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深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：发射载波输出电平 检测样品：SRD短距离发射设备 标准：电磁兼容性和无线电频谱物质.短程装置(SRD).频率范围:9KHZ～25MHZ和频率范围的无线电设备和频率范围:9HZ～30MHZ的感应县全系统.第2部分:根据R&TTE指令3.2条款协调的欧洲标准 ETSI EN 300 330-2 V1.5.1 （20

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程智电子科技（昆山）有限公司

检测项：2.10 电气间隙，爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备（单相） 标准：信息技术设备-安全-第1部分：一般要求 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1: 2012 Ed. 2.1 IEC 60950-1: 2013 Ed. 2.2 EN 60950-1: 2006 EN 60950-1: 2006+A1:2010

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香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：有用接收机输入电平范围 检测样品：GSM 移动台 标准：不测振动条件下的射频参数 不测以下测试項： 12.2.1，12.2.2， 14.1.2.1, 14.1.2.2, 14.4.3, 14.6.2, 16.1, 18.1, 21.1, 21.2, 21.3.1, 21.3.2, 21.4.1, 22.1,

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深圳康来士标准测试技术有限公司

检测项：与通信网路的连接 (第6章) 检测样品：信息技术设备 标准：GB 4943.1-2011《信息技术设备、安全性：一般要求》 IEC 60950-1:2005+Am.1:2009 EN 60950-1:2006+A1:2010+A12:2011 UL 60950-1:2011

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快特电波科技(苏州)有限公司检测中心

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-

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威胜集团有限公司测试中心

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 电能信息采集与管理系统 第3-1部分：电能信息采集终端技术规范—通用要求 DL/T 698.31-2010 ③ 电力用户用电信息采集系统

检测项：射频场感应的传导骚扰抗扰度试验 检测样品：电能表 标准：① 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003 ③ 多功能电能

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

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信华科技（深圳）有限公司

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003

检测项：部分项目 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 IEC 60950-1:2005 +A1:2009 EN 60950-1:2006 +A11:2009 +A1:2010+A12:2011 UL60950-1:2003 U

检测项：2.10电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 (安全) 标准：信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2001 UL60950-1:2003 UL60950-1:2007 AS/NZS 60950.1:2003 CAN/CSA-C22.2 No.60950-1:2003 CAN/CS

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奥测世纪（北京）技术股份有限公司

检测项：爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 EN60950-1：2006

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