安徽中认倍佳科技有限公司

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 61000.3.2:2007/Amdt

检测项：部分项目 检测样品：电气设备(电磁兼容) 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003； GB 17625.1-2012； IEC61000-3-2 :2009； EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2：2009 AS/NZS 610

机构所在地：安徽省滁州市 更多相关信息>>

深圳市准测检测技术有限公司

检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002+A1:2004 +A11:2004+A12:2006 +A2:2006 +A13:2008 GB 4706.1:2005 AS/NZS 60335.1:2011 家用和类

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

宁波华祥技术服务有限公司

检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002 +A1:2004+A11:2004 +A2:2006+A12:2006 +A13:2008+A14:

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

北京大华无线电仪器厂计量检测中心

检测项：振动试验 检测样品：电工 电子 产品 环境 试验 标准：GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦)

检测项：振动试验 检测样品：军用 电子 测试 设备 环境 试验 标准：GJB3947A-2009 军用电子测试设备通用规范

检测项：振动试验 检测样品：电子 测量 仪器 环境 试验 标准：GB6587.1～8-1986 电子测量仪器环境试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七0七研究所导航产品检测中心

检测项：温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品：自动舵 标准：GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验

检测项：温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品：计程仪 标准：GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验

检测项：温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品：燃油净化装置 标准：GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

庆安集团有限公司检测与环境实验中心

检测项：振动 检测样品：航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品 标准：《军用设备环境试验方法 振动试验》GJB150.16-1986

检测项：振动 检测样品：航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品 标准：《机载设备环境条件及试验方法 振动》 HB5830.5-1984

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十研究所校准/检测实验室

检测项：振动试验 检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准：军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-1986

检测项：振动试验 检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准：军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB150.20-1986

检测项：振动试验 检测样品：军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准：军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-2009

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

杭州中检电气研究院有限公司

检测项：部分项目 检测样品：低压多功能电器 转换开关电器 标准：GB/T14048.11－2008 IEC60947-6-1:2005,MOD 低压开关设备和控制设备 第6-1部分：多功能电器 转换开关电器

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

安泰科技股份有限公司分析测试中心

检测项：幅值磁导率μa 检测样品：非晶、纳米晶材料及器件 标准：GB/T3658-2008 软磁合金交流磁性能测量方法 GB/T 19346-2003 非晶纳米晶软磁合金交流磁性能测试方法 ASTM A912/A912M–2011 用万用表环形样品法测试非晶材料在电频率条件下交流磁特性的试验方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>