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架空绝缘电缆检验项目——10kV架空绝缘电缆检验项目 10kV架空绝缘电缆检验项目 承载绞线结构 绝缘平均厚度 绝缘最薄处厚度 导体电阻试验 局部放电试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆) 弯曲试验及随后局部放电试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆) tgδ与电压关系试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆...查看详情>>
10kV架空绝缘电缆检验项目
收起百科↑ 最近更新:2018年11月28日
检测项:输入直流反灌杂音电流 检测样品:通信电源分配列柜 标准:传输设备用电源分配列柜 YD/T 939-2005
检测项:额定零功率电阻 检测样品:通信设备过电流保护用PTCR 标准:通信设备过电流保护用正温度系数(PTC)热敏电阻器技术要求 YD/T 741-2002
检测项:交换机输入端容许输入信号抖动和漂移 检测样品:数字程控调度机 标准:数字程控调度机技术要求和测试方法 YD/T 954-1998
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:输入零电流 检测样品:图示仪 标准:GB/T 13974-92 半导体管特性图示仪测试方法
检测项:输入零电流 检测样品:电阻器 标准:GB/T 5729-2003 《电子设备用固定 电阻器》
检测项:集电极电压偏转系数 检测样品:图示仪 标准:GB/T 13974-92 半导体管特性图示仪测试方法
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入电流 II 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:晶体振荡器 标准:GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范
检测项:输入电流 检测样品:晶体振荡器 标准:GJB 1648A-2011 晶体振荡器总规范
检测项:输入二极管反向电流 检测样品:光电耦合器 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:保护性能(过电压、过电流、输入欠压) 检测样品:电源分配列柜 标准:YD/T 939-2005 《传输设备用电源分配列柜》
检测项:输入直流电压变化范围 检测样品:通信用直流-直流模块电源 标准:YD/T 1376-2005 《通信用直流—直流模块电源》
检测项:输入电源转换 检测样品:交流配电设备 标准:YD/T 585-2010 《通信用配电设备》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入阻抗 检测样品:氧化锌避雷器测试仪 标准:《氧化锌避雷器阻性电流测试仪通用技术条件》 DL/T987-2005
检测项:电容量和介质损耗 因数测量 检测样品:电流互感器 标准:《电流互感器》 GB1208-2006 《电力用电流互感器订货技术条件》 DL/T725-2000 《互感器 第1部分:电流互感器》 IEC60044-1:2003
检测项:电容和介质损耗因数测量 检测样品:电子式电流互感器(传感器) 标准:《互感器 第8部分: 电子式电流互感器》GB/T20840.8-2007 《互感器 第8部分: 电子式电流互感器》IEC60044-8:2002
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入偏置电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入偏置电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:*电源接口稳态输入电流测量 检测样品:电信终端设备(安全) 标准:《电信终端设备的安全要求和试验方法》YD/T 965-1998
检测项:*总辐射功率 检测样品:移动通讯终端(空中性能) 标准:《移动台空间射频辐射功率和接收机性能测试方法》YD/T 1484-2011 《无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第6部分:LTE无线终端》YD/T 1484.6-2013 《TD-SCDMA移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法》YD/T
检测项:*总接收灵敏度 检测样品:移动通讯终端(空中性能) 标准:《移动台空间射频辐射功率和接收机性能测试方法》YD/T 1484-2011 《无线终端空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 第6部分:LTE无线终端》YD/T 1484.6-2013 《TD-SCDMA移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法》YD/T
机构所在地:广东省河源市 更多相关信息>>