佛山市香港科技大学LED-FPD工程技术研究开发中心实验室

检测项：光强分布和光束角 检测样品：电子产品 标准：电子电工产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB/T2423.1-2008

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

北京神州腾耀通信技术有限公司

检测项：高温试验 检测样品：电工电子产品（可靠性） 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2 :2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：温度改变 检测样品：电气设备环境试验 标准：军用装备实验室环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5A-2009

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

丹佛斯（天津）有限公司全球服务（中国）技术中心

检测项：干热实验 检测样品：压缩机及控制阀用零部件 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB/T 2423.2-2008 Bb

检测项：干热实验 检测样品：压缩机及控制阀用零部件 标准：环境试验-第2-2部分：试验方法-试验B：高温 IEC 60068-2-2:2007 Bb

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

北方自动控制技术研究所检测试验室

检测项：温度冲击试验 检测样品：军用设备（装备） 标准：《军用设备环境试验方法 温度冲击试验》 GJB150.5-1986 《军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验》 GJB150.5A-2009

检测项：低气压(高度)试验 检测样品：军用设备（装备） 标准：《军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验》 GJB150.2-1986 《军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压(高度)试验》 GJB150.2A-2009

检测项：环境应力筛选试验 检测样品：军用设备（装备） 标准：《电子产品环境应力筛选方法》GJB1032-1990

机构所在地：山西省太原市 更多相关信息>>

深圳市谱尼测试科技有限公司

检测项：矿化度 检测样品：水和废水 标准：180℃烘干的可滤残渣《水和废水监测分析方法》（第四版)(增补版） 第三篇第一章第七条第三节

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十三研究所信息产业信息记录及防泄漏产品质量监督检验中心

检测项：高温试验 检测样品：电子产品、机械部件、材料类产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3-1986

机构所在地：山西省太原市 更多相关信息>>

开封市水大流量计量科技有限公司

检测项：基本误差 检测样品：容积式 流量计 标准：《容积式流量计通用技术条件》JB/T 9242-1999

检测项：绝缘电阻 检测样品：容积式 流量计 标准：《容积式流量计通用技术条件》JB/T 9242-1999

机构所在地：河南省开封市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京东方计量测试研究所

检测项：恒定湿热 检测样品：仪器仪表、计量器具、电工电子产品、电子测量仪器、军用装备设备（环境试验） 标准：GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验 GJB 150.9A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>