天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 光电子器件分规范 GB/T 12565-1990

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分：低气压 GB/T 4937.2-2006 IEC 60749-2:2002

检测项：部分参数 检测样品：半导体分立器件发光二极管 标准：半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 GB/T 4589.1-2006 IEC 60747-10:1991

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：光谱带宽 检测样品：金属膜固定电阻器 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：偏转系数 及误差 检测样品：模拟示波器 标准：GB/T 6585-1996 阴极射线示波器通用规范

检测项：频带宽度 检测样品：数字示波器 标准：GB/T 15289-94 数字存储示波器通用技术条件和测试方法

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：光谱带宽 检测样品：密度计 标准：密度计的结构和校准原则 GB/T 17764-2008

检测项：仪器分辨力或最小光谱带宽 检测样品：分光光度计（可见分光光度计、紫外-可见分光光度计、原子吸收分光光度计） 标准：紫外-可见分光光度计 JB/T 67777-1993

检测项：频带宽度与频率响应 检测样品：电话计费器 标准：《电话自动计费器集中管理系统技术要求》 YDN 006-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国测试技术研究院

检测项：光谱带宽或分辨率 检测样品：可见分光光度计 标准：可见分光光度计 JB/T 9324-1999

检测项：光谱带宽、分辨力 检测样品：荧光分光光度计 标准：《荧光分光光度计》 JB/T 5594-1991

检测项：光谱带宽或分辨率 检测样品：可见分光光度计 标准：可见分光光度计 JB/T 9324-1999

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

苏州朗博校准检测有限公司

检测项：光谱带宽 检测样品：可见分光光度计 标准：可见分光光度计 JB/T 9324-1999

检测项：分辨带宽 检测样品：屏蔽室 标准：电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GB/T 12190-2006

检测项：分辨带宽选择性 检测样品：屏蔽室 标准：电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法 GB/T 12190-2006

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

广州市光机电技术研究院检测技术服务中心

检测项：半光强处的光谱带宽 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：半强度带宽的中心波长 检测样品：LED 标准：发光二极管光学性能测试方法JB/T 10875-2008

检测项：相对光谱分布 检测样品：LED灯具 标准：固态照明设备电气和光度测试核定方法IES LM-79-08

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所质检中心

检测项：光谱带宽 检测样品：双光束紫外可见分光光度计 标准：GB/T26813-2011《双光束紫外可见分光光度计》

检测项：光谱带宽 检测样品：双光束紫外可见分光光度计 标准：GB/T26813-2011《双光束紫外可见分光光度计》

检测项：峰值发射波长、光谱带宽和光谱功率分布 检测样品：发光二极管（LED） 标准：SJ/T 11394-2009 《半导体发光二极管测试方法》

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：占用带宽 检测样品：TD-SCDMA基站 标准：电磁兼容性和无线光谱物质(ERM)；IMT-2000第三代蜂窝网络的基站(BS)，中继器和用户设备(UE)；第1部分：满足R&TTE指示中的条款3.2的基本要求的IMT-2000, 介绍和普通要求的协调EN ETSI EN 301 908-01 V4.2.

检测项：占用带宽 检测样品：TD-SCDMA基站 标准：电磁兼容性和无线光谱物质(ERM)；IMT-2000第三代蜂窝网络的基站(BS)，中继器和用户设备(UE)；第1部分：满足R&TTE指示中的条款3.2的基本要求的IMT-2000, 介绍和普通要求的协调EN ETSI EN 301 908-01 V4.2.

检测项：占用带宽 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：光谱辐射带宽Δλ 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009 半导体二极

检测项：光谱辐射带宽Δλ 检测样品：发光二极管 标准：1、GB/T 18904.3－2002 半导体器件第12-3部分：光电子器件显示用发光二极管空白详细规范 2、GB/T 15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 3、SJ/T 11394-2009半导体二极管测试

检测项：光谱性能 检测样品：荧光粉 标准：GB/T 23595.1-2009 白光LED灯用稀土黄色荧光粉试验方法 第1部分：光谱性能的测定

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 GB/T 14029-1992

检测项：部分参数 检测样品：运算（电压）放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>