中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输入高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 第5.2节

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：开环电压增益 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：交流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：直流参数 检测样品：数字电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 半导体集成电路TTL测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 半导体集成电路双极性随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路

检测项：基极-发射极饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件 GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分 整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：静态电流ID 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入钳位电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.1条

检测项：输入高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.2条

检测项：输入高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.3条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

陕西千山航空电子有限责任公司检测中心

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

检测项：功能及部分电参数测试 检测样品：集成电路： (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548A-96 中4.5节及产品手册要求

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出电压温度系数ST 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：输出噪声电压SNO 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>