武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(TO) 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：输出高电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

检测项：输出低电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

检测项：阈值 检测样品：微加速度传感器 标准：单轴摆式伺服线加速度计试验方法 GJB 1037A-2004

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：阈值电流IT 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：晶体振荡器 标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：栅-源阈值电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：同步阈值电压VT(S) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：阈值电流IT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路时基电路 标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：阈值电压 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：阈值电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：阈值电压 检测样品：场效应管IGBT 标准：半导体分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出高电平阈值电压VOHT 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输出低电平阈值电压VOLT 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：正向阈值电压下的输入电流IT+ 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

哈尔滨市环境监测中心站

检测项：臭 检测样品：水(含大气降水)和废水 标准：臭阈值法《水和废水监测分析方法》(第四版增补版)国家环保总局(2002)

检测项：臭 检测样品：水(含大气降水)和废水 标准：臭阈值法《水和废水监测分析方法》(第四版增补版)国家环保总局(2002)

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>

福建紫金矿冶测试技术有限公司

检测项：臭和味 检测样品：水和废水 标准：文字描述法、臭阈值法 《水和废水监测分析方法》（第四版、增补版P89）

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