半导体集成电路MOS随机存储器中输出高电平电压VOH的检测

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T17574-1998 第2节第1条

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：采样-保持失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数 检测样品：MOS随机存储器 标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

检测项：动态参数 检测样品：MOS随机存储器 标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

检测项：功能 检测样品：MOS随机存储器 标准：半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器 标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：功能测试棋盘格 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：功能测试步进 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：导通电阻路差ΔRON 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入箝位电压 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>