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检测项:栅极-发射极阈值电压 检测样品:绝缘栅双极晶体管(IGBT) 标准:GB/T29332-2012/IEC60747-9Ed.2.0:20076.3.3 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:数字集成电路 标准:《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2003
检测项:阈值电压和饱和电压 检测样品:液晶显示器件 标准:液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数GB/T 18910.61-2012
检测机构:中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>
检测项:S参数 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
机构所在地:河北省石家庄市